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影響體積表面電阻率測(cè)試儀測(cè)試的因素介紹

更新時(shí)間:2018-03-30      點(diǎn)擊次數(shù):2556
   影響體積表面電阻率測(cè)試儀測(cè)試的因素介紹
  體積表面電阻率測(cè)試儀的用途就是測(cè)量體積電阻率,體積電阻率是材料每單位立方體積的電阻,該試驗(yàn)可以按如下方法進(jìn)行:將材料在500伏特電壓下保持1分鐘,并測(cè)量所產(chǎn)生的電流,體積電阻率越高,材料用做電絕緣部件的效能就越高。 體積電阻率也叫體積電阻、體積電阻系數(shù),是表征電介質(zhì)或絕緣材料電性能的一個(gè)重要指標(biāo)。表示1cm3電介質(zhì)對(duì)泄漏電流的電阻,單位是Ω·m或Ω·cm。體積電阻率愈大,絕緣性能愈好。
  體積表面電阻率測(cè)試儀的測(cè)試時(shí)的影響因素:
  1、環(huán)境溫濕度
  一般材料的絕緣電阻值隨環(huán)境溫濕度的升高而減小。相對(duì)而言,表面電阻(率)對(duì)環(huán)境濕度比較敏感,而體電阻(率)則對(duì)溫度較為敏感。濕度增加,表面泄漏增大,導(dǎo)體電導(dǎo)電流也會(huì)增加。溫度升高,載流子的運(yùn)動(dòng)速率加快,介質(zhì)材料的吸收電流和電導(dǎo)電流會(huì)相應(yīng)增加,據(jù)有關(guān)資料報(bào)道,一般介質(zhì)在70℃時(shí)的電阻值僅有20℃時(shí)的10%。因此,體積表面電阻率測(cè)試儀測(cè)量絕緣電阻時(shí),必須指明試樣與環(huán)境達(dá)到平衡的溫濕度。
  2、測(cè)試時(shí)間
  用一定的直流電壓對(duì)被測(cè)材料加壓時(shí),被測(cè)材料上的電流不是瞬時(shí)達(dá)到穩(wěn)定值的,而是有一衰減過程。在加壓的同時(shí),流過較大的充電電流,接著是比較長時(shí)間緩慢減小的吸收電流,后達(dá)到比較平穩(wěn)的電導(dǎo)電流。被測(cè)電阻值越高,達(dá)到平衡的時(shí)間則越長。因此,體積表面電阻率測(cè)試儀測(cè)量時(shí)為了正確讀取被測(cè)電阻值,應(yīng)在穩(wěn)定后讀取數(shù)值。在通信電纜絕緣電阻測(cè)試方法中規(guī)定,在充電1分鐘后讀數(shù),即為電纜的絕緣實(shí)測(cè)值。但是在實(shí)際上,此方法有些不妥,因?yàn)橹绷麟妷簩?duì)被測(cè)材料加壓時(shí),被測(cè)材料上的電流是電容電流,既然是電容電流,就與電纜的電容大小有關(guān),電容大需要充電的時(shí)間就長,特別是油膏填充電纜,就需要的時(shí)間要長一些。所以同一類型的電纜,由于長度不一樣,及電容大小不一樣,充電時(shí)間為一分鐘時(shí)讀數(shù)顯然是不科學(xué),還需進(jìn)一步研究和探討。
  3、測(cè)試設(shè)備的泄漏
  在體積表面電阻率測(cè)試儀測(cè)試中,線路中絕緣電阻不高的連線,往往會(huì)不適當(dāng)?shù)嘏c被測(cè)試樣、取樣電阻等并聯(lián),對(duì)體積表面電阻率測(cè)試儀測(cè)量結(jié)果可能帶來較大的影響。為此:為減小測(cè)量誤差,應(yīng)采用保護(hù)技術(shù),在漏電流大的線路上安裝保護(hù)導(dǎo)體,以基本消除雜散電流對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響;高電壓線由于表面電離,對(duì)地有一定泄漏,所以盡量采用高絕緣、大線徑的高壓導(dǎo)線作為高壓輸出線并盡量縮短連線,減少,杜絕電暈放電;采用聚乙烯、聚四氟乙烯等絕緣材料制作測(cè)試臺(tái)和支撐體,以避免由于該類原因?qū)е聹y(cè)試值偏低。
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